Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Mezinárodní srovnávací analýza informačních systémů ochranných známek a průmyslových vzorů
Zellerová, Věnceslava ; Papík, Richard (vedoucí práce) ; Bratková, Eva (oponent)
Diplomová práce analyzuje a srovnává vybrané informační systémy týkající se informací průmyslového vlastnictví resp. ochranných známek a průmyslových vzorů. Jedná se o vybrané systémy Úřadu průmyslového vlastnictví ČR, Úřadu pro harmonizaci ve vnitřním trhu, Světové organizace duševního vlastnictví, Úřad patentů a ochranných známek Spojených států a Švédského patentového a registračního úřadu. Práce je rozdělena do 7 částí. První část popisuje terminologii a prostředí ochranných známek a průmyslových vzorů. Druhá část uvádí typy mezinárodních třídění, na které navazuje třetí část, která popisuje mezinárodní smlouvy a dohody. Čtvrtá část pak představuje vybrané instituce a jejich analyzované systémy. Pátá část se věnuje samotné analýze a šestá část shrnuje trendy ve zpřístupňování ochranných známek a průmyslových vzorů. Poslední sedmá část práce ukazuje, jaký má dopad ochrana ochranných známek a průmyslových vzorů na oblast podnikání. Analýza ukázala, že nejlépe hodnocenými systémy byly národní databáze Úřadu průmyslového vlastnictví ČR. Naopak nejhorší hodnocení získaly databáze Úřadu patentů a ochranných známek Spojených států. Klíčová slova Průmyslové vlastnictví, ochranná známka, průmyslový vzor, informační systém, databáze, vyhledávání průmyslově právních informací, Úřad průmyslového...
Ochranná známka EU v podnikání
Šustr, Ondřej ; Jakl, Ladislav (vedoucí práce) ; Vacek, Petr (oponent)
Práce pojednává o komunitárním systému známkoprávní ochrany. Součástí práce je naznačení historie ochranných známke obecně a také CTM. Dále právní prameny CTM, nařízení o CTM a dále analýza judikátů ESD ohledně ochranných známek. Také zde popisuji postup při registraci CTM.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.